更智能,更高效:Workflows功能全新上线
自定义工作流程,一键自动生成精准匹配需求的3D模型。
自定义工作流程步骤,创建理想流程。
根据您的应用需求自定义参数配置,或使用预设配置
启动工作流程,自动生成高质量模型。
通过工作流程自动将模型导出至其他软件,或使用脚本操作。
为何使用Workflows功能?省时高效,避免差错,结果稳定可靠。
数据处理复杂耗时,工作流程功能(Workflows)能快速自动执行常规任务,产出结果稳定可靠,适用于从CGI到制造业等多个领域。
自动高效建模
使用Workflows功能创建3D模型比单独操作各项工具更快,自动处理,有效节省重复任务时间。
全流程数据处理
预先设定工作流程的每个步骤,保存为可复用的一键式流程,确保结果一致且无差错。
按需配置
根据具体扫描对象、设备或准确度、分辨率、多边形计数等需求自定义设置,以实现最佳效果。
无需培训,即刻上手
通过预设配置即可获得准确结果,任何团队成员无需经验皆可轻松操作。
真实对比:相同数据处理,三种方法,效率显著提升
自动化工作流程让您专注下一项目,无需守在电脑前监控并手动操作每个步骤。
通过自动化工作流程实现
受顶尖专家们的认可
定制专属工作流程
根据您的特定任务或行业需求,打造合适的工作流程。
构建流畅产品流程
Workflows功能可自动打开Design X或ZEISS Inspect等软件使用高级工具,实现全流程自动化处理。
集成第三方软件
Workflows功能可在数据处理后自动启动第三方软件,并导出最终3D模型以供后续设计、逆向工程或检验使用。
使用熟悉界面操作
扫描后运行工作流程,可直接在当前使用的任意软件中完成后续处理,无需切换界面或掌握Artec Studio。
绕过技术门槛
Artec Studio让您无需单独操作处理步骤,告别设置难题,获得流畅不间断的工作体验。
使用脚本加速重复性工作流程
若您需要定期扫描相似物体,可通过部署脚本启动自定义工作流,更快处理批量数据。
不知道如何实现工作流程自动化?
联系Artec 3D认证合作伙伴协助您定制工作流程;或访问我们的资源库使用现有工作流程。
如需帮助定制工作流程,我们的专业合作伙伴将为您提供服务。联系我们,我们会为您对接就近经销商。
探索各类行业专用的现成工作流程,可直接下载并集成至现有设置中。
直接对话专家,了解如何转变工作流程。
选择一款合适的套餐
购买永久许可,也可年度订购,定期享受软件升级、技术支持。
对更新版Artec Studio是否有疑问?
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在Artec Studio中可以使用哪些类型的数据来构建3D模型?
Artec Studio现在支持照片、视频和3D扫描数据,这赋予了极大的灵活性。您可以使用任何配备摄像头的设备捕获的数据来创建3D模型。
旧版本软件要求用户需配备3D扫描仪。现在,您可以用智能手机拍摄照片或视频,再将它们转换成纹理细腻的3D模型。
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用Artec 3D扫描可以捕获什么?
借助Artec Studio 19,几乎任何能想到的东西都可以转换成3D模型。无论是用Artec手持式和台式3D扫描仪,以亚毫米级精度捕获小型物体细节;还是用Artec激光雷达扫描仪捕获大型建筑;亦或是派遣无人机拍摄全景风貌,Artec 3D都能满足您的需求。
3D模型的复杂度也没有限制。物体表面无论或暗或亮,还是细节复杂,Artec Studio均配备所需工具,确保您获得最佳扫描效果。
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Artec Studio兼容哪些3D扫描仪?
Artec Studio虽支持摄影测量,但它也支持结构光、激光雷达和基于标记点的激光扫描设备,是一款行业领先的专业3D扫描软件。
支持整个Artec 3D扫描系列:无线扫描仪Artec Leo、计量级扫描仪Spider II、多功能结构光扫描仪Eva、工业级扫描仪Point、桌面型扫描仪Micro II、LiDAR扫描仪Ray II、计量套件和部分旧型号。更多信息可以在软件的技术规格中找到。
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摄影测量在Artec Studio中是如何工作的?
先从不同角度拍摄物体的照片或视频,随后将这些数据上传至Artec Studio。然后,选择想要数字化的对象或场景进行重建,接下来的工作便交给软件的高级算法完成。
如需更多信息,请访问Artec Studio的摄影测量页面。
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3D扫描可以捕获哪些过去难以想象的东西?
在逆向工程和质检等对精度要求严苛的应用场景中,3D扫描表现出色。摄影测量虽精度稍逊,却同样能生成纹理丰富、逼真细腻的模型,不失为一种有效的替代方案。
摄影测量通过相机捕获数据,而非3D扫描仪,这让它在某些应用场景中更为灵活多变。例如,在3D扫描仪难以进入的地方,仍可用无人机或水下航拍器轻松捕获影像。
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Artec Studio中的Workflows是什么?
Workflows是可根据应用需求定制的3D建模工作流程,只需一键即可自动化常规任务,数据处理提速高达70%。用户还可配置Workflows将模型导出至第三方软件,或使用脚本进一步加速批量数据集处理。
Artec Studio 20有何新增
全新功能解锁3D扫描与摄影测量技术潜能
全新功能:高效可重复的工作流程
定制专属工作流程
更好精准满足需求,加速3D模型处理,无缝兼容现有系统配置。
自动完成重复性任务
预设算法按序自动运行,无需反复配置参数,也无需全程在电脑前守候。
轻松共享工作流程
将工作流程与同事或客户共享,确保不同经验水平的用户都能获得统一的高质量成果。
命令行功能
自动化更进一步-Artec Studio 20现支持脚本编程,实现从文件到模型的自动化工作流程。
Spider II更智能、更快速、更强大
升级以体验突破性功能,包括实时扫描优化、自动扫描以及可变增益功能,优化Spider II扫描结果并简化扫描流程。
Micro II超高分辨率无死角扫描
Micro II的HD模式可获取细节更详尽的扫描数据,三轴支持使复杂几何的完整捕获更加轻松。
Artec Point画质扫描双优化
增强的可视化功能使每次扫描捕获更多细节,扫描过程更加直观高效,扫描速度提升至少2倍。
AI赋能的进阶摄影测量技术
更深度整合,成就卓越效果
Artec Studio现支持USD、RCP等主流文件格式及Zeiss Inspect等第三方软件,提供更全面的解决方案。
Artec Point的可视化功能升级、遮罩模式升级以及支持多摄像头的AI摄影测量技术,已于2025年2月正式上线。
Artec Studio 20参数规格
导入格式 | |
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Artec 3D格式 | ^ |
CAD格式 | SAT, STEP, IGES, X_T |
导出格式 | |
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网格 | OBJ, PLY, WRL, STL, AOP, ASC, USD, Disney PTEX, E57, XYZRGB, USDZ |
点云(仅适用于Artec Ray & Ray II) | PTX, BTX, XYZ |
参照标记点 | OBC |
测量值 | CSV, DXF, XML |
CAD | STEP, IGES, X_T |
硬件支持 | |
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兼容Artec Studio 19的3D扫描仪 | Artec Eva、Eva Lite、Leo、Metrology Kit、Micro II、Point、Ray II、Spider II,以及已停产的型号:Micro、Ray、Spider、Space Spider、Medit D700、MH 和 MHT 系列的AG、AC、W2和T2。 |
如需了解停产扫描仪兼容性的详细信息,请联系 support@artec3d.com。 |
系统要求 | |
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支持的操作系统 | Windows 10 x64、Windows 11 |
推荐计算机配置 | 第13或第14代Intel Core i7或i9处理器,RTX 4070显卡(8 GB) |
计算机最低要求 | 第12代Intel Core i9处理器,RTX 4060显卡(8 GB) |
详细的硬件要求可以在Artec支持中心找到。
Artec Studio对比
版本 | 20 | 19 | 18 |
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快速强劲的3D处理 | |||
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多扫描仪处理 | ^ | ^ | ^ |
新功能:Workflows | ^ | ||
多扫描仪智能融合 | 多预设融合功能界面优化 | 精细调整扫描仪特定数据 | ^ |
多扫描仪整体配准 | ^ | ^ | ^ |
融合:速度 | 相比AS16提速10%,RAM占用减少30% | ||
融合:排除错误帧 | ^ | ^ | ^ |
整体配准 | ^ | 新功能:薄物体 | 提速一倍 |
一步网格优化 | ^ | 提速10倍 | ^ |
扫描抽取 | ^ | ^ | ^ |
自动模式 | 包括Spider II | 包括Micro II | ^ |
新功能:Spider II实时融合支持 | ^ | ||
新功能:Micro II三轴支持系统 | ^ | ||
Ray II“街景视图”模式 | ^ | ^ | |
Artec Point兼容性 | ^ | ^ | |
X光模式 | ^ | ^ | ^ |
HDR & 16-bit纹理效果 | ^ | ^ |
AI驱动的HD模式 | |||
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适用于Eva和Leo的HD模式 | ^ | ^ | 提速4倍 |
新功能:Micro II HD模式 | ^ | ||
点密度和帧频率选择 | 自动或手动 | 自动或手动 | 自动或手动 |
HD简单预设置 | ^ | ^ | ^ |
采用不同设置多次HD重建 | ^ | ^ | ^ |
基于GPU优化设置 | ^ | ^ | ^ |
AI摄影测量 | |||
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借助AI直接将照片/视频转化为3D模型 | ^ | ^ |
高级CGI工具,打造3D模型完美色彩 | |||
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适合Leo的AI色彩对比增强 | ^ | ^ | ^ |
提升纹理品质 | ^ | ^ | ^ |
新升级:摄影测量纹理优化 | ^ | ||
针对Leo优化色彩捕获模式 | ^ | ^ | ^ |
场景光源优化 | ^ | ^ | ^ |
自动反光移除 | ^ | ^ | ^ |
模型到模型的纹理转移 | ^ | ^ | ^ |
相片纹理 | 工作流程自动化支持 | Ray II支持照片纹理功能 | 含相片查看模式 |
纹理修复刷 | ^ | ^ | ^ |
网格简化刷 | ^ | ^ | 提升 |
智能自动化 | |||
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自动模式 | ^ | ^ | ^ |
自动对齐 | ^ | ^ | ^ |
扫描尺寸优化 | ^ | ^ | ^ |
智能基底移除 | ^ | ^ | ^ |
轻松3D扫描 | |||
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自动亮度调节 | ^ | ^ | ^ |
适合扫描黑色、反光、精密物体的自动灵敏度设置 | ^ | ^ | ^ |
多台埃太科三维扫描仪协同建模 | ^ | ^ | ^ |
纹理与几何扫描 | ^ | ^ | ^ |
质量检测 | |||
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Artec Studio PtB认证 | ^ | ^ | ^ |
网格至CAD对比 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 |
网格对齐至CAD | 自动 | 自动 | 自动 |
数据对齐 | ^ | ^ | ^ |
2D截面分析 | ^ | ^ | ^ |
自动缺陷检测 | ^ | ^ | ^ |
偏差映射图 | 高级距离计算 | 高级距离计算 | 高级距离计算 |
厚度映射图 | ^ | ^ | ^ |
公差检查模式 | ^ | ^ | ^ |
标记点支持优化 | ^ | ^ | ^ |
目标厚度补偿 | ^ | ^ | ^ |
表面距离图:一键注解 | ^ | ^ | ^ |
表面距离图:逐点偏差 | ^ | ^ | ^ |
测量:直线型、大地线型、剖面、距离图、体积、注解。导出至CSV、DXF、XML | ^ | ^ | ^ |
直接导出至Control X | ^ | ^ | ^ |
Artec Studio下运行Control X质检 | ^ | ^ | ^ |
Artec Studio下运行Control X批量质检 | ^ | ^ | ^ |
新升级:在Artec Studio中运行ZEISS Optical 3D Inspection | ^ |
用于逆向工程的扫描至CAD | |||
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拟合CAD图元至3D模型 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 |
创建自由图元 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 |
自动曲面 | ^ | ^ | Improved |
自由曲面拟合 | ^ | ^ | ^ |
布尔运算 | ^ | ^ | ^ |
几何约束 | ^ | ^ | ^ |
精准定位 | ^ | ^ | ^ |
直接导出多份开放和闭合轮廓至CAD | ^ | ^ | ^ |
制作拔模角 | ^ | ^ | ^ |
倒角和倒圆角工具 | ^ | ^ | ^ |
即时偏差分析 | ^ | ^ | ^ |
移动和偏置面 | ^ | ^ | ^ |
表面加厚工具 | ^ | ^ | ^ |
直接将拟合图元和网格导出至SOLIDWORKS | ^ | ^ | ^ |
直接导出至Design X | ^ | ^ | ^ |
拆解组件 | ^ | ^ | |
删除面 | ^ | ^ |
用户界面与人体工学 | |||
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主屏幕项目管理器 | ^ | ^ | ^ |
快速面板 | ^ | ^ | ^ |
深度属性选项卡 | 高级 | 高级 | 高级 |
手动选择帧 | ^ | ^ | ^ |
多对象导出 | ^ | ^ | ^ |
自定义工作区 | ^ | ^ | ^ |