严格的质检&质保工具
Artec Studio提供质量检测、偏差分析、高级数据捕获和处理算法的软件解决方案。
精准测量，达毫米级精度。
分析3D模型的距离与偏差。
将模型导出至更高级的检验软件。
处理数据快速，效果出色
Artec Studio配备超快速的算法，能够将捕获的数据快速转为精细网格，为建模奠定坚实基础。
对齐&测量，达毫米级精度
识别并检验偏差
多台扫描仪组合使用，扫描范围更广
使用两台及以上Artec 3D扫描仪协同作业，并在Artec Studio中整合数据，以深入分析并检验不同尺寸的物体及其细节。
导出数据，进行高级处理
将数据以OBJ、STL、STEP和PTEX等格式导出至各类主流3D建模软件。
解锁Artec Studio 20更多潜力
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Artec Studio 20有何新增
全新功能解锁3D扫描与摄影测量技术潜能
版本比较
全新功能：高效可重复的工作流程
定制专属工作流程
更好精准满足需求，加速3D模型处理，无缝兼容现有系统配置。
自动完成重复性任务
预设算法按序自动运行，无需反复配置参数，也无需全程在电脑前守候。
轻松共享工作流程
将工作流程与同事或客户共享，确保不同经验水平的用户都能获得统一的高质量成果。
命令行功能
自动化更进一步-Artec Studio 20现支持脚本编程，实现从文件到模型的自动化工作流程。
Spider II更智能、更快速、更强大
升级以体验突破性功能，包括实时扫描优化、自动扫描以及可变增益功能，优化Spider II扫描结果并简化扫描流程。
Micro II超高分辨率无死角扫描
Micro II的HD模式可获取细节更详尽的扫描数据，三轴支持使复杂几何的完整捕获更加轻松。
Artec Point画质扫描双优化
增强的可视化功能使每次扫描捕获更多细节，扫描过程更加直观高效，扫描速度提升至少2倍。
AI赋能的进阶摄影测量技术
更深度整合，成就卓越效果
Artec Studio现支持USD、RCP等主流文件格式及Zeiss Inspect等第三方软件，提供更全面的解决方案。
Enhanced USD and RCP functionality
unlocks new possibilities in CGI, visual effects, and infrastructure – including in applications that rely on popular software like Autodesk Revit.**
Full Zeiss Inspect integration
means users can now deploy more advanced tools for in-depth analysis within the same familiar Artec Studio interface.
Artec Point的可视化功能升级、遮罩模式升级以及支持多摄像头的AI摄影测量技术，已于2025年2月正式上线。
Artec Studio 20参数规格
| 导入格式 | |
|---|---|
| Artec 3D格式、扫描数据、网格、点云 | ^ |
| CAD格式 | SAT, STEP, IGES, X_T |
| 照片与视频格式 | BMP, JPG, PNG, TIF, MOV, MP4, AVI, M4V, 3G2, 3GP, 3GP2, 3GPP |
| 导出格式 | |
|---|---|
| 网格 | OBJ, PLY, WRL, STL, AOP, ASC, Disney PTEX, E57, XYZRGB, USD, USDZ |
| 点云 | PTX, BTX, XYZ, RCP |
| 参照标记点 | OBC |
| 测量值 | CSV, DXF, XML |
| CAD | STEP, IGES, X_T |
| 硬件支持 | |
|---|---|
| 兼容Artec Studio 20的3D扫描仪 | Artec Eva、Eva Lite、Leo、Metrology Kit、Micro II、Point、Ray II、Spider II，以及已停产的型号：Micro、Ray、Spider、Space Spider、Medit D700、MH 和 MHT 系列的AG、AC、W2和T2。 |
| 如需了解停产扫描仪兼容性的详细信息，请联系 support@artec3d.com。 |
| 系统要求 | |
|---|---|
| 支持的操作系统 | Windows 10 x64、Windows 11 |
| 推荐计算机配置 | 第13或第14代Intel Core i7或i9处理器，RTX 4070显卡（8 GB） |
| 计算机最低要求 | 第12代Intel Core i9处理器，RTX 4060显卡（8 GB） |
规格仅供参考，系统要求取决于所用的数据捕获设备。详细的硬件要求可以在Artec支持中心找到。
Artec Studio对比
| 版本 | 20 | 19 | 18 |
|---|
| 快速强劲的3D处理 | |||
|---|---|---|---|
| 多扫描仪处理 | ^ | ^ | ^ |
| 新功能：Workflows | ^ | ||
| 多扫描仪智能融合 | 精细调整扫描仪特定数据 | 精细调整扫描仪特定数据 | ^ |
| 多扫描仪整体配准 | ^ | ^ | ^ |
| 融合：速度 | ^ | ^ | 相比AS16提速10%，RAM占用减少30% |
| 融合：排除错误帧 | ^ | ^ | ^ |
| 整体配准 | ^ | 新功能：薄物体 | 提速一倍 |
| 一步网格优化 | ^ | 提速10倍 | ^ |
| 扫描抽取 | ^ | ^ | ^ |
| 自动模式 | Leo、Eva、Space Spider、Micro II、Spider II | Leo、Eva、Space Spider、Micro II | Leo、Eva、Space Spider |
| 新功能：Spider II实时融合支持 | ^ | ||
| 新功能：Micro II三轴支持系统 | ^ | ||
| Ray II“街景视图”模式 | ^ | ^ | |
| Artec Point兼容性 | 数据捕获速度提升2倍 | ^ | |
| X光模式 | ^ | ^ | ^ |
| HDR & 16-bit纹理效果 | ^ | ^ | |
| 全新实时融合功能 | Leo, Eva, Space Spider, Spider II | Leo, Eva, Space Spider | Leo, Eva, Space Spider |
| AI驱动的HD模式 | |||
|---|---|---|---|
| 适用于Eva和Leo的HD模式 | ^ | ^ | 提速4倍 |
| 新功能：Micro II HD模式 | ^ | ||
| 点密度和帧频率选择 | 自动或手动 | 自动或手动 | 自动或手动 |
| HD简单预设置 | ^ | ^ | ^ |
| 采用不同设置多次HD重建 | ^ | ^ | ^ |
| 基于GPU优化设置 | ^ | ^ | ^ |
| AI摄影测量 | |||
|---|---|---|---|
| 借助AI直接将照片/视频转化为3D模型 | ^ | ^ |
| 高级CGI工具，打造3D模型完美色彩 | |||
|---|---|---|---|
| 适合Leo的AI色彩对比增强 | ^ | ^ | ^ |
| 提升纹理品质 | ^ | ^ | ^ |
| 新升级：摄影测量纹理优化 | ^ | ||
| 针对Leo优化色彩捕获模式 | ^ | ^ | ^ |
| 场景光源优化 | ^ | ^ | ^ |
| 自动反光移除 | ^ | ^ | ^ |
| 模型到模型的纹理转移 | ^ | ^ | ^ |
| 相片纹理 | 工作流程自动化支持 | Ray II支持照片纹理功能 | 含相片查看模式 |
| 纹理修复刷 | ^ | ^ | ^ |
| 网格简化刷 | ^ | ^ | 提升 |
| 智能自动化 | |||
|---|---|---|---|
| 自动模式 | Leo、Eva、Space Spider、Micro II、Spider II | Leo、Eva、Space Spider、Micro II | Leo、Eva、Space Spider |
| 自动对齐 | Workflows | ^ | ^ |
| 扫描尺寸优化 | ^ | ^ | ^ |
| 智能基底移除 | ^ | ^ | ^ |
| 轻松3D扫描 | |||
|---|---|---|---|
| 自动亮度调节 | ^ | ^ | ^ |
| 适合扫描黑色、反光、精密物体的自动灵敏度设置 | ^ | ^ | ^ |
| 多台埃太科三维扫描仪协同建模 | ^ | ^ | ^ |
| 几何扫描 | ^ | ^ | ^ |
| 纹理扫描 | 除Point外的所有扫描仪 | 除Point外的所有扫描仪 | 除Point外的所有扫描仪 |
| 质量检测 | |||
|---|---|---|---|
| Artec Studio PtB认证 | ^ | ^ | ^ |
| 网格至CAD对比 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 |
| 网格对齐至CAD | 自动 | 自动 | 自动 |
| 数据对齐 | ^ | ^ | ^ |
| 2D截面分析 | ^ | ^ | ^ |
| 自动缺陷检测 | ^ | ^ | ^ |
| 偏差映射图 | 高级距离计算 | 高级距离计算 | 高级距离计算 |
| 厚度映射图 | ^ | ^ | ^ |
| 公差检查模式 | ^ | ^ | ^ |
| 标记点支持优化 | ^ | ^ | ^ |
| 目标厚度补偿 | ^ | ^ | ^ |
| 表面距离图：一键注解 | ^ | ^ | ^ |
| 表面距离图：逐点偏差 | ^ | ^ | ^ |
| 测量：直线型、大地线型、剖面、距离图、体积、注解。导出至CSV、DXF、XML | ^ | ^ | ^ |
| 直接导出至Control X | ^ | ^ | ^ |
| Artec Studio下运行Control X质检 | ^ | ^ | ^ |
| Artec Studio下运行Control X批量质检 | ^ | ^ | ^ |
| 新升级：在Artec Studio中运行ZEISS Optical 3D Inspection | ^ |
| 用于逆向工程的扫描至CAD | |||
|---|---|---|---|
| 拟合CAD图元至3D模型 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 |
| 创建自由图元 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 |
| 自动曲面 | ^ | ^ | Improved |
| 自由曲面拟合 | ^ | ^ | ^ |
| 布尔运算 | ^ | ^ | ^ |
| 几何约束 | ^ | ^ | ^ |
| 精准定位 | ^ | ^ | ^ |
| 直接导出多份开放和闭合轮廓至CAD | ^ | ^ | ^ |
| 制作拔模角 | ^ | ^ | ^ |
| 倒角和倒圆角工具 | ^ | ^ | ^ |
| 即时偏差分析 | ^ | ^ | ^ |
| 移动和偏置面 | ^ | ^ | ^ |
| 表面加厚工具 | ^ | ^ | ^ |
| 直接将拟合图元和网格导出至SOLIDWORKS | ^ | ^ | ^ |
| 直接导出至Design X | ^ | ^ | ^ |
| 拆解组件 | ^ | ^ | |
| 删除面 | ^ | ^ |
| 用户界面与人体工学 | |||
|---|---|---|---|
| 主屏幕项目管理器 | ^ | ^ | ^ |
| 快速面板 | ^ | ^ | ^ |
| 深度属性选项卡 | 高级 | 高级 | 高级 |
| 手动选择帧 | ^ | ^ | ^ |
| 多对象导出 | ^ | ^ | ^ |
| 自定义工作区 | ^ | ^ | ^ |
