Artec Studio 20参数规格
| 导入格式 | |
|---|---|
| Artec 3D格式、扫描数据、网格、点云 | ^ |
| CAD格式 | SAT, STEP, IGES, X_T |
| 照片与视频格式 | BMP, JPG, PNG, TIF, MOV, MP4, AVI, M4V, 3G2, 3GP, 3GP2, 3GPP |
| 导出格式 | |
|---|---|
| 网格 | OBJ, PLY, WRL, STL, AOP, ASC, Disney PTEX, E57, XYZRGB, USD, USDZ |
| 点云 | PTX, BTX, XYZ, RCP |
| 参照标记点 | OBC |
| 测量值 | CSV, DXF, XML |
| CAD | STEP, IGES, X_T |
| 硬件支持 | |
|---|---|
| 兼容Artec Studio 20的3D扫描仪 | Artec Eva、Leo、Metrology Kit、Micro II、Point、Ray II、Spider II，以及已停产的型号：Micro、Ray、Spider、Space Spider、Medit D700、MH 和 MHT 系列的AG、AC、W2和T2。 |
| 如需了解停产扫描仪兼容性的详细信息，请联系 support@artec3d.com。 |
| 系统要求 | |
|---|---|
| 支持的操作系统 | Windows 10 x64、Windows 11 |
| 推荐计算机配置 | 第13或第14代Intel Core i7或i9处理器，RTX 4070显卡（8 GB） |
| 计算机最低要求 | 第12代Intel Core i9处理器，RTX 4060显卡（8 GB） |
规格仅供参考，系统要求取决于所用的数据捕获设备。详细的硬件要求可以在Artec支持中心找到。
Artec Studio对比
| 版本 | 20 | 19 | 18 |
|---|
| 快速强劲的3D处理 | |||
|---|---|---|---|
| 多扫描仪处理 | ^ | ^ | ^ |
| 新功能：Workflows | ^ | ||
| 多扫描仪智能融合 | 精细调整扫描仪特定数据 | 精细调整扫描仪特定数据 | ^ |
| 多扫描仪整体配准 | ^ | ^ | ^ |
| 融合：速度 | ^ | ^ | 相比AS16提速10%，RAM占用减少30% |
| 融合：排除错误帧 | ^ | ^ | ^ |
| 整体配准 | ^ | 新功能：薄物体 | 提速一倍 |
| 一步网格优化 | ^ | 提速10倍 | ^ |
| 扫描抽取 | ^ | ^ | ^ |
| 自动模式 | Leo、Eva、Space Spider、Micro II、Spider II | Leo、Eva、Space Spider、Micro II | Leo、Eva、Space Spider |
| 新功能：Spider II实时融合支持 | ^ | ||
| 新功能：Micro II三轴支持系统 | ^ | ||
| Ray II“街景视图”模式 | ^ | ^ | |
| Artec Point兼容性 | 数据捕获速度提升2倍 | ^ | |
| X光模式 | ^ | ^ | ^ |
| HDR & 16-bit纹理效果 | ^ | ^ | |
| 全新实时融合功能 | Leo, Eva, Space Spider, Spider II | Leo, Eva, Space Spider | Leo, Eva, Space Spider |
| AI驱动的HD模式 | |||
|---|---|---|---|
| 适用于Eva和Leo的HD模式 | ^ | ^ | 提速4倍 |
| 新功能：Micro II HD模式 | ^ | ||
| 点密度和帧频率选择 | 自动或手动 | 自动或手动 | 自动或手动 |
| HD简单预设置 | ^ | ^ | ^ |
| 采用不同设置多次HD重建 | ^ | ^ | ^ |
| 基于GPU优化设置 | ^ | ^ | ^ |
| AI摄影测量 | |||
|---|---|---|---|
| 借助AI直接将照片/视频转化为3D模型 | ^ | ^ |
| 高级CGI工具，打造3D模型完美色彩 | |||
|---|---|---|---|
| 适合Leo的AI色彩对比增强 | ^ | ^ | ^ |
| 提升纹理品质 | ^ | ^ | ^ |
| 新升级：摄影测量纹理优化 | ^ | ||
| 针对Leo优化色彩捕获模式 | ^ | ^ | ^ |
| 场景光源优化 | ^ | ^ | ^ |
| 自动反光移除 | ^ | ^ | ^ |
| 模型到模型的纹理转移 | ^ | ^ | ^ |
| 相片纹理 | 工作流程自动化支持 | Ray II支持照片纹理功能 | 含相片查看模式 |
| 纹理修复刷 | ^ | ^ | ^ |
| 网格简化刷 | ^ | ^ | 提升 |
| 智能自动化 | |||
|---|---|---|---|
| 自动模式 | Leo、Eva、Space Spider、Micro II、Spider II | Leo、Eva、Space Spider、Micro II | Leo、Eva、Space Spider |
| 自动对齐 | Workflows | ^ | ^ |
| 扫描尺寸优化 | ^ | ^ | ^ |
| 智能基底移除 | ^ | ^ | ^ |
| 轻松3D扫描 | |||
|---|---|---|---|
| 自动亮度调节 | ^ | ^ | ^ |
| 适合扫描黑色、反光、精密物体的自动灵敏度设置 | ^ | ^ | ^ |
| 多台埃太科三维扫描仪协同建模 | ^ | ^ | ^ |
| 几何扫描 | ^ | ^ | ^ |
| 纹理扫描 | 除Point外的所有扫描仪 | 除Point外的所有扫描仪 | 除Point外的所有扫描仪 |
| 质量检测 | |||
|---|---|---|---|
| Artec Studio PtB认证 | ^ | ^ | ^ |
| 网格至CAD对比 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 |
| 网格对齐至CAD | 自动 | 自动 | 自动 |
| 数据对齐 | ^ | ^ | ^ |
| 2D截面分析 | ^ | ^ | ^ |
| 自动缺陷检测 | ^ | ^ | ^ |
| 偏差映射图 | 高级距离计算 | 高级距离计算 | 高级距离计算 |
| 厚度映射图 | ^ | ^ | ^ |
| 公差检查模式 | ^ | ^ | ^ |
| 标记点支持优化 | ^ | ^ | ^ |
| 目标厚度补偿 | ^ | ^ | ^ |
| 表面距离图：一键注解 | ^ | ^ | ^ |
| 表面距离图：逐点偏差 | ^ | ^ | ^ |
| 测量：直线型、大地线型、剖面、距离图、体积、注解。导出至CSV、DXF、XML | ^ | ^ | ^ |
| 直接导出至Control X | ^ | ^ | ^ |
| Artec Studio下运行Control X质检 | ^ | ^ | ^ |
| Artec Studio下运行Control X批量质检 | ^ | ^ | ^ |
| 新升级：在Artec Studio中运行ZEISS Optical 3D Inspection | ^ |
| 用于逆向工程的扫描至CAD | |||
|---|---|---|---|
| 拟合CAD图元至3D模型 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 |
| 创建自由图元 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 |
| 自动曲面 | ^ | ^ | Improved |
| 自由曲面拟合 | ^ | ^ | ^ |
| 布尔运算 | ^ | ^ | ^ |
| 几何约束 | ^ | ^ | ^ |
| 精准定位 | ^ | ^ | ^ |
| 直接导出多份开放和闭合轮廓至CAD | ^ | ^ | ^ |
| 制作拔模角 | ^ | ^ | ^ |
| 倒角和倒圆角工具 | ^ | ^ | ^ |
| 即时偏差分析 | ^ | ^ | ^ |
| 移动和偏置面 | ^ | ^ | ^ |
| 表面加厚工具 | ^ | ^ | ^ |
| 直接将拟合图元和网格导出至SOLIDWORKS | ^ | ^ | ^ |
| 直接导出至Design X | ^ | ^ | ^ |
| 拆解组件 | ^ | ^ | |
| 删除面 | ^ | ^ |
| 用户界面与人体工学 | |||
|---|---|---|---|
| 主屏幕项目管理器 | ^ | ^ | ^ |
| 快速面板 | ^ | ^ | ^ |
| 深度属性选项卡 | 高级 | 高级 | 高级 |
| 手动选择帧 | ^ | ^ | ^ |
| 多对象导出 | ^ | ^ | ^ |
| 自定义工作区 | ^ | ^ | ^ |
