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Artec 3D推出Artec Studio 20:全新3D数据捕获与处理软件,实现工作流程自动化

Artec Studio

卢森堡 | 2025年9月3日 – 知名3D扫描硬件与软件开发商Artec 3D宣布推出最新版本的3D数据捕获与处理软件——Artec Studio 20(AS20)。

Artec Studio是一款集3D扫描、摄影测量、逆向工程与质量检验于一体的多功能软件,此次再度升级。全新推出的工作流程(Workflows)功能,可构建更快速、全自动且支持自定义的数据处理流程,特别适用于数字化、设计迭代与批量产品分析等应用场景。

用户还能享受到Artec扫描仪系列升级带来的技术红利。全新实时扫描优化功能显著提升Artec Spider II扫描效率,使其能生成高精度轻量化模型,特别适合快速原型制作与3D建模。Artec Micro II则新增高清模式和三轴扫描,实现更高分辨率成像,能捕获到小型物体更丰富的细节,适用于逆向工程与质量检验。

AI摄影测量方面,优化的遮罩功能可生成超逼真、无瑕疵的3D模型,极大减少了CGI、视觉特效及法医鉴定等领域的后期编辑需求。此次Artec Studio功能全方位升级,数字孪生数据的捕获比以往更加快速便捷。

Artec 3D首席执行官Art Yukhin表示:“Artec Studio 19的功能已近乎完备,几乎涵盖用户捕获3D模型所需的功能。而Artec Studio 20则在此基础上进一步突破,其工作流程功能支持用户自定义并自动化重复性任务,实现批量处理。我们的硬件与软件运行更快速、协同更紧密、操作更简单,旨在为各行业客户带来实实在在的投资回报。”

定制工作流程,获得快速、可复现的结果

Artec Studio的工作流程可根据用户需求进行个性化定制。只需简单排列算法并点击“运行”(run),即可一键将捕获的数据转换为3D模型。工作流程实现自动化,数据处理速度提升了70%,用户能专注于其他任务。

Artec Studio

在Artec Studio中,参数可根据不同数据集进行调整,无需每次重复配置。全新工作流程功能适配重复性任务,不仅能消除人为误差、提升流程可重复性,更能输出可靠的高质量结果。

为获取更好的自动化体验,年度订阅用户可通过脚本构建工作流程,实现向第三方软件自动导入、处理与导出数据。这种集成方案支持批量处理,用户无需全程等候在电脑前。此外文件可自动传输,为快速处理同类数据集开辟了新路径。

Artec 3D扫描性能迎来升级

Artec Studio每年更新堪比换新扫描仪,此次的20周年纪念版也不例外。Artec Studio 20多方面升级,比如:此前仅为Artec Leo独有的实时融合功能,现已搭载于Artec Spider II。该功能可通过高精度实时预览提供更精准的反馈,确保数据采集的可靠性。

全新推出的实时扫描优化功能,能将Spider II采集的高分辨率数据转换为轻量化3D模型。在保证高精度结果的同时,还能简化数据处理流程。新集成的自动模式(Autopilot)进一步精简操作步骤,尤其适合新手。升级后的重建算法还能生成更完整的数据集,生成逼真且具备水密性的模型,适用于对细节捕获要求极高的文化遗产保护、教育及医疗领域。

桌面扫描仪Artec Micro II,只需一键即可实现小型物体的数字化,其性能通过多项功能的增强得到提升。高清模式显著提升了细节捕获能力,单次扫描获取的数据点数量高达此前的4倍。除整体分辨率的提升,三轴系统的集成还扩大了表面扫描范围——借助第三轴,Micro II能精准捕获物体复杂且隐蔽的部位,重现物体全貌。

Artec Studio

Artec 3D首款工业级激光扫描仪Artec Point迎来性能升级,优化后的可视化功能使数据捕获速度提升至原来的2倍,操作体验也更直观。无线扫描仪Artec Leo与远距扫描仪Artec Ray II也同步获得更新:重新设计了融合设置并支持工作流程自动化。通过新版应用程序,Ray II用户还能使用街景视图和全新的全景模式等功能。

AI驱动的新一代摄影测量技术

已推出一年多的AI摄影测量技术持续迭代。Artec Studio 20中优化的遮罩功能可生成逼真无瑕疵的3D模型;而纹理遮罩功能则可避免物体与背景模糊融合。

Artec Studio

多相机支持显著加速摄影测量的数据采集,同时让Artec Studio可与多种硬件兼容,无论是无人机、智能手机、手持摄像机还是单反相机皆适用。用户还可启用优先选择清晰图像功能,系统将自动从上传的照片或视频中筛选最清晰的帧,从而生成高度逼真的模型。

此外,GPU内存优化设置可根据用户硬件需求进行自定义,确保AI摄影测量能够高效率重建模型。

更强大的集成,更直观的界面

更强大的第三方软件集成,进一步优化了Artec Studio 20在跨应用场景中的表现。全新界面设计让ZEISS Inspect高级分析工具的操作更加轻松——数据导出更为简便,同时还支持脚本自动化操作。增强的USD文件支持为CGI与视觉特效用户拓宽了应用范围,新增的RCP文件支持还实现了与Autodesk Revit等主流BIM平台的兼容。

借助距离与强度导出过滤器,用户能够优化数据,以满足下游处理的需求。此外,Artec Studio 20的界面也迎来多项优化:升级的工具与重新设计的扫描控制面板,能够带来更直观的导航与操作体验。

Artec Studio 20现已正式发布,点击此处了解详情。我们邀请您亲临Formnext展会现场体验,或联系您附近的授权经销商,即刻开启高效3D扫描之旅。

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