Artec Neo 入选 DEVELOP3D 2026 年度「D3D 30」 全球创新技术榜单

行业领先的三维硬件与软件开发商 Artec 3D 宣布，旗下计量级无线三维扫描仪 Artec Neo 成功入选 DEVELOP3D 2026 年「D3D 30」颠覆性技术榜单，这是由英国专业工业设计与产品开发媒体《DEVELOP3D》评选的年度 30 项创新技术榜单。

每年，DEVELOP3D 都会表彰那些为设计、工程和制造领域带来最大变革的产品。Artec Neo 完全凭借自身实力入选，与 Autodesk、达索系统、英伟达、西门子和Stratasys 等众多知名企业开发的技术同列榜单。

今年，Artec 3D 推出了多款突破三维扫描边界的产品。除 Artec Neo 外，公司还推出了基于 SLAM 的激光雷达三维扫描仪 Artec Jet，可捕获任意环境，以及用于处理大规模三维数据集的全新软件 Artec Twins。

Artec Neo 将计量级精度与高分辨率全彩三维捕捉集成于一台设备中。创新的混合模式支持有标记点或无标记点扫描，让用户能够完全灵活地决定如何在每项计量任务中使用标记点。将标记点限定在具有关键公差的重要特征上，还可缩短准备时间，从而加快检测与逆向工程进程。

开启公差驱动的三维扫描新时代

Artec Neo 在芝加哥 IMTS 展会上首次亮相，是业界首款公差驱动的三维扫描仪。普通激光计量需要在整个零件上布置标记点。而借助 Artec Neo，用户只需在决定配合与功能的特征上放置标记点即可。

在实际应用中，标记点作为计量锚点可提供最高 0.025 毫米的精度，而其他所有区域则通过几何形状和纹理进行跟踪。最终得到的是一个完整数据集，以最高 0.05 毫米的分辨率全彩捕获整个零件。

这种方法让用户能够根据每个项目灵活掌控扫描方式。标记点可布置在整个零件上、关键特征周围，或在零件表面易损或已磨损时，也可布置在周边夹具上。在无需计量级精度的场合，Artec Neo 还可完全不使用任何标记点进行扫描。

该设备采用无线设计，电池供电可连续扫描长达 40 分钟，能够在 Artec Studio、 SOLIDWORKS、Geomagic以及PolyWorks 等高级软件中为逆向工程和检测采集数据。

深耕工业计量市场

Artec Neo 与 Artec Micro II 和 Artec Point II 一样，是 Artec 不断扩大计量市场版图的核心产品。上个月，Artec 3D 位于卢森堡的计量校准实验室获得了卢森堡认可与监督办公室（OLAS）颁发的 ISO/IEC 17025 认可，标志着公司在计量领域的发展迈出了重要一步。

该实验室历时四年建成，在温湿度受控的环境中，使用定制的高精度标准器，按照 VDI/VDE 2634 第 3 部分标准对 Artec 3D扫描仪进行校准。实验室出具的校准证书带有 OLAS 认可标志，该标志通过 EA 和 ILAC 互认协议在 100 多个国家和地区获得认可。Artec Neo 将成为首批在此接受校准的扫描仪。

2026 年度 D3D 30 榜单发布

2026 年度 D3D 30 已在 DEVELOP3D 官网正式发布，专设的 D3D 30 页面展示了所有入选技术，同时也是 DEVELOP3D 社交媒体宣传活动的内容中心。

榜单中的每项技术均由 DEVELOP3D 编辑团队撰写介绍，详细解读相关技术的工作原理。此外，该榜单还将作为重点专题刊登在《DEVELOP3D》杂志10月/11月刊中，面向全球设计师、工程师和技术专业人士发行。

Formnext 展会一睹风采

在2026年 Formnext 展会上，参观者将见证 Artec Neo 在欧洲的首次亮相。作为全球领先的增材制造行业展会之一，Formnext 将于11月17日至20日在德国法兰克福展览中心举行，预计将汇聚约800家参展商。

除 Artec Neo 外，Artec 展位还将展出完整的 Artec 3D 产品线，包括 Artec Point II、Micro II、Spider II、Leo、Ray II 和 Jet，以及 Artec Twins 中的高斯泼溅技术，合作伙伴 KLIB、algona 和 Mark3D 也将在展位上亮相。

Artec 3D 展位位于11.0 号展厅 D45 展位。欢迎与会者前来参观、观看免费演示，并探索 Artec 3D 扫描如何融入特定的工作流程。

如果您无法亲临现场，欢迎通过 sales@artec3d.com 联系我们。Artec 3D 销售团队将为您对接最近的授权经销商。