Artec 3D推出Artec Neo，开创公差驱动的三维扫描新方式

卢森堡 | 2026年9月14日 — 全球三维扫描硬件与软件领域的领先企业Artec 3D今日宣布推出Artec Neo——全球首款采用“公差驱动”理念的三维扫描仪，为质量检测和逆向工程带来全新的工作方式。

Artec Neo可在设计要求的关键区域实现0.025 mm计量级精度和0.025 mm + 0.04 mm/m的体积精度，同时以最高0.05 mm分辨率获取整个工件的全彩三维数据。

这些参数本身已十分出色，但Artec Neo带来的突破远不止于此。它采用全新的三维扫描方式：不再对所有表面一视同仁，而是将计量级精度集中于功能性特征。这正是Artec所倡导的“公差驱动”的三维扫描：在贴点方式上赋予用户充分灵活性，在确保关键区域达到计量级精度的同时，大幅提升扫描效率。

让测量遵循设计意图

现代工程设计遵循一个简单原则：测量应该聚焦于那些决定零件是否能正常运作的关键表面。这一理念正是GD&T（几何尺寸与公差）的核心。工程师通过尺寸和公差传达设计意图——明确哪些特征对于装配、定位、密封和功能至关重要，以及这些特征需要达到怎样的精度要求。

然而，到目前为止，计量级三维扫描通常对所有表面一视同仁。传统激光扫描工作流程往往需要在整个工件表面粘贴标记点，以维持经过验证的精度，即便某些区域对精度并无关键要求。这让质量检测与逆向工程变得耗时冗长、成本高昂，却并非必要。

Artec Neo改变了这一方式：让计量级精度遵循设计意图。这一能力得益于Artec自主研发的蓝光光学系统和单一混合式跟踪架构。Artec Neo仅在需要计量级精度的区域使用标记点作为测量基准，在关键公差区域实现0.025 mm精度。与此同时，AI算法利用几何形状、纹理和颜色信息，在其他区域持续保持扫描跟踪。整个过程中无需在不同扫描技术或数据集之间切换。

单次扫描，一个数据集，让精度聚焦于功能需求。

“GD&T所体现的理念很简单：并非所有区域都需要极致精度，真正需要控制的是那些决定零件能否正常工作的关键特征。”Artec 3D总裁兼首席执行官Art Yukhin表示，“Artec Neo将这一理念应用于三维扫描。如果你有工程图纸，图纸会告诉你哪些区域需要计量级精度；如果你进行逆向工程，可以在重建设计的过程中确定这些区域。让计量级精度聚焦于功能所需之处，同时完整捕捉整个工件。这就是我们所说的‘公差驱动的三维扫描’。”

一台扫描仪，兼顾质量检测与逆向工程

Artec Neo支持多种工作流程，标记点如何使用完全由用户决定。在进行全尺寸计量检测时，可在整个工件上粘贴标记点；在尺寸测量中，可以仅在具有关键公差要求的特征周围贴点。对于易损或磨损的表面，还可以将标记点贴附在周围的夹具上，在保护工件原有状态的同时，为关键尺寸测量提供稳定的计量基准。而在无需计量级精度的场景中，Artec Neo可以完全不贴点进行扫描，以最高0.05 mm分辨率捕捉精细细节，包括深部特征，并获取逼真的全彩三维数据。

Artec Neo搭载Artec 3D旗舰级三维数据采集与处理软件 Artec Studio，可输出适用于逆向工程和质量检测的三维数据。软件提供完整的数据编辑工具，并支持与SOLIDWORKS、Geomagic和PolyWorks等专业软件集成，以满足更高级的工程应用需求。

Artec Neo适用于对尺寸公差要求严苛的行业和应用场景。在汽车行业，用户可以测量间隙与面差，同时完整捕捉周围车身数据。在航空航天维修、维护与大修领域，可以对关键接口进行精确测量，同时数字化更大范围的结构部件。在国防和工业维护领域，即使缺少工程图纸或现有CAD模型，Artec Neo也能够帮助用户重建老旧零部件。在改造与安装应用中，Artec Neo能够精确捕捉连接点和接口，同时获取周围完整的几何数据。

每台Artec Neo均经过精度验证

Artec Neo的计量性能在Artec 3D独立计量与校准实验室中进行验证，该实验室依照ISO/IEC 17025原则运行，并采用符合VDI/VDE 2634第3部分标准的测试方法。自动化机器人测试消除了操作人员的影响，确保整个测量体积内的重复性。

每台Artec Neo均经过单独测试，并随附专属验证证书出货。

无线计量，无拘无束

Artec Neo支持有线连接或完全无线工作，提供最长50分钟的连续电池供电和Wi-Fi连接。无论是机械内部、大型装配体周围、高空作业、狭小空间，还是生产车间，尺寸控制可直接在零件现场进行。此外，即将推出的iOS和Android配套应用程序还可将任意智能手机变为Artec Neo的显示屏。

"Artec Neo的核心不在于将计量精度应用于每一处，而在于将其应用于设计所需之处，同时完整捕获工件，"Yukhin补充道，"测量关键部位，获取完整数据。"

产品上市

Artec Neo将于2026年IMTS展会首次亮相，展会时间为9月14日至19日，地点位于芝加哥麦考密克展览中心。展会期间，观众可在东馆3层134246号展位现场体验Artec Neo以及Artec 3D完整的三维扫描产品系列，并获得Artec 3D合作伙伴及公司专家提供的专业咨询。

Artec Neo现已通过Artec 3D全球经销商网络正式发售。如需了解更多信息，请联系您附近的经销商或发送邮件至sales@artec3d.com。

关于Artec 3D

Artec 3D是享誉全球的专业三维硬件与软件开发商及制造商，也是AI三维重建、计算机视觉与数字孪生领域的全球领导者。公司总部位于卢森堡，其技术广泛应用于工程、制造、医疗健康、科学、艺术与设计以及文化遗产等领域。